電性檢測
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- 案例分享
- 應用範圍
- 設備規格
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- 商品名稱: 電性檢測
電性檢測模組面向半導體器件與微納結構的電流–電壓特性分析，覆蓋從μA級到nA級的高精度量測需求，支援自動化並行測試與手動精密量測兩種模式。
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半導體器件 IV 特性曲線 掃描（二極管、 MOSFET、BJT 等）
大規模陣列器件的 批量電性篩選與良率統計（ 智慧 1）
高壓器件、絕緣結構與漏電流測試（ 是德科技 B2901A）
微納電極、 MEMS、先進封裝的小尺寸探針接觸測試（TX 2）
可靠性評估：擊穿電壓、漏電流、導通電阻、遲滯特性 等參數提取
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Smart-1
設備能力：精度uA級，電壓範圍±9V，ACT 64通道自動量測，外接探針量測。
是德科技 B2901A
設備能力：精度nA級，電壓範圍±200V，手動量測、外接探針量測。
TX-2
設備能力：四針0.5um軟針及1um硬針，可搭載電源、示波器、IV Curve等測試設備。
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