工作壽命試驗 (OLT)
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- 商品名稱: 工作壽命試驗 (OLT)
HTOL（高/低溫作業壽命試驗）即高/低溫壽命試驗，是利用溫度、電壓加速方式，在短時間試驗內，預估晶片在長時間可工作下的壽命時間（生命周期預估）。典型浴缸曲線分成早夭期（Infant Mortality）、可使用期（Useful Life）及老化期（Wear out），對於不同區段的故障率評估，皆有相應的試驗手法。
久析能為你做什麼
BI（燒機）／ELFR（早期失效率）：評估早夭階段的故障率，或藉由BI手法降低出貨的早夭率——DPPM（百萬分之缺陷零件）。
HTOL（高溫作業壽命）：評估可使用期限的壽命時間——FIT / MTTF。對於不同產品屬性也有相應的測試方法及條件，如BLT（偏置壽命測試）試驗手法。
上述各項實驗條件，均需要施加電源或信號源，使得組件進入工作狀態或穩態，經由電壓、溫度、時間等加速因子（Acceleration Factor）交互作用下，達到材料老化的效果，並從試驗結果計算出預估產品的故障率、MTTF（Mean Time To Failure）及FIT（Failure In Time）。
失效模式
從浴缸曲線三個區段，其故障率的統計數據及失效原因，歸納如下：
早夭期（嬰兒死亡率）：故障率由高而快速下降——失效原因為設計缺失／製程缺失。
可使用期：故障率低且穩定——失效原因隨機出現（例如 EOS 故障）
老化期（Wear Out）：故障率會快速增加——失效原因是老化造成。
服務優勢
★ 全系列Burn-in系統，符合各功率消耗、獨立溫控
★ 全系列公板/客製板，另外在電路設計/PCB佈局/Layout/PCB 組裝/客製化Socket
參考規範
JESD 47
JESD 74
JESD22-A101
JESD22-A110
JESD22-A108
適用領域
車用、消費性、商用、工業用
所屬分類：
標籤：
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